Activer le mode zen
Ressource au format PDF

Mots-clés

microscope microscopie microscope électronique à balayage microscope à force atomique AFM ToFSIMS spectromètre spectromètre de masse PEEM PhotoElectron Emission Microscope

Les microscopes

30/06/2008

C. Reyraud

Outils de la recherche, CEA

Catherine Simand

Dossier du Commissariat à l'énergie atomique, publié le 19 mai 2008 sur le site www.cea.fr.

Résumé

Un lien vers un dossier thématique du CEA sur les nouveaux instruments de microscopie : microscope électronique à balayage, microscope à force atomique, spectromètre à temps de vol, spectromicroscope de photo-électrons...

Un dossier complet du Commissariat à l'énergie atomique (CEA) consacré aux nouveaux instruments de microscopie, intitulé Les microscopes.

Introduction du dossier :

Il est loin le temps des microscopes optiques ! Les recherches en micro et nano technologies se pratiquent à des échelles que seuls les instruments récents peuvent explorer. Et dans ce domaine, ce sont les différentes propriétés physiques des matériaux qui déterminent les applications. Or, pour les microscopes, l'équation est similaire : les différentes propriétés physiques font des images différentes ! D'où la nécessité de recourir à une grande variété d'instruments pour étudier toutes les caractéristiques des différents nano-objets.

Plan du dossier :

  • Les microscopes, explorateurs de l'infime ;
  • Le microscope électronique à balayage (MEB) ;
  • Le microscope à force atomique (AFM), simple et polyvalent ;
  • Le ToFSIMS, analyste de haut vol ;
  • Le spectromicroscope de photo-électrons XPEEM ;
  • Et demain ? Vers la troisième dimension.

Pour un tour d'horizon des microscopies de pointe : Les microscopes, sur le site du CEA.

Bonne lecture !

Pour citer cet article :

Les microscopes, C. Reyraud, juin 2008. CultureSciences Physique - ISSN 2554-876X, https://culturesciencesphysique.ens-lyon.fr/ressource/lien-dossier-microscope-CEA.xml

Ressource au format PDF