Les nouveaux outils de mesure à l’échelle du nanomètre : De la métrologie électrique quantique à la nanométrologie

Une conférence de Nicolas Feltin, chercheur au Laboratoire National de Métrologie et d'Essais, Paris présentée le 19 février 2014.

La métrologie est une discipline essentielle pour la maîtrise des mesurages et pour vérifier la cohérence des résultats expérimentaux effectués entre laboratoires. L’une des missions du Laboratoire National de métrologie et d’Essais est d’assurer la mise en œuvre des unités du Système International d'unités (SI) et l'accès aux références métrologiques dont les utilisateurs d’instruments ont besoin, dans le cadre d’une traçabilité rigoureusement établie. L’idée d’un système d’unités universel est né sous la Révolution française au travers de la mise en place du système métrique. Depuis cette époque, le système d’unités a évolué et la métrologie a su tirer partie des découvertes de la physique pour élaborer des étalons toujours plus performants, stables et reproductibles. Depuis une quarantaine d’années, la métrologie est marquée par l’introduction de la physique quantique pour établir de nouvelles références dans le domaine du temps/fréquence et de l’électricité/magnétisme. Ce rapprochement entre physique fondamentale et métrologie a permis de renouer avec le vieux rêve de Stoney et Planck d’imaginer un SI fondé sur un nombre restreint de constantes fondamentales.

Un certain nombre d’expériences actuellement menées et mettant en œuvre des nanodispositifs permet d’envisager une telle refonte du SI dans un avenir proche. Dans le même temps, le développement des nanotechnologies nécessite de se doter d’outils capables de mesurer les propriétés de la matière à des échelles nanométriques. Cette instrumentation adaptée exige le développement d’une nouvelle métrologie, la nanométrologie, qui se distingue de la métrologie traditionnelle par son aspect multidisciplinaire et qui nécessite l’émergence de nouveaux concepts.

La conférence :

Pour écouter en ligne la conférence, synchronisée avec les diapositives et le plan de la conférence : « Les nouveaux outils de mesure à l’échelle du nanomètre : De la métrologie électrique quantique à la nanométrologie » (durée : 1 h).